• Москва: +7-495-789-64-32
  • Санкт-Петербург: +7-812-649-75-04
  • +375-44-704-97-04
  • +375-17-275-97-04
  • info@profilab.by
  1. Profilab.by
  2. Блог
  3. События
  4. 18-ый Международный Конгресс по метрологии (CIM2017)

18-ый Международный Конгресс по метрологии (CIM2017)

bg-footer

19-21 сентября 2017 года в Париже, Франция, пройдет 18-ый Международный Конгресс по метрологии (CIM2017).

Данный конгресс является площадкой для взаимодействия исследований и разработок с промышленным применением. Конгресс собирает вместе тех, кто создает метрологию настоящего и будущего и тех, кто действительно применяет ее. Конгресс призван подчеркнуть роль измерений в промышленности и деятельности лабораторий, с учетом того, что измерения становятся все более автоматизированными, цифровыми и взаимосвязанными, и не забывая об изменениях в международной системе единиц, запланированных на 2018 год.

Конгресс ставит перед собой следующие цели:

  • улучшить процессы измерений, анализа и испытаний, а также контроля рисков;
  • изучить эволюцию методологий и достижения в области научных исследований и их промышленное применение;
  • собрать все заинтересованные стороны в одном месте.

В рамках Конгресса будет проходить выставка ENOVA, которая будет являться точкой соприкосновения технологий в электронике, измерениях, телевидении и оптике. Выставка объединит игроков промышленности и области исследований, которые ищут инновационные решения (стартапы, исследовательские институты, университеты, промышленные предприятия и научные центры). Все технологии, необходимые для инноваций завтрашнего дня, можно найти на ENOVA.

Более подробную информацию о 18-ом Международном Конгрессе по метрологии (CIM2017) можно найти на официальном сайте //www.cim2017.com