18-ый Международный Конгресс по метрологии (CIM2017)

19-21 сентября 2017 года в Париже, Франция, пройдет 18-ый Международный Конгресс по метрологии (CIM2017).

Данный конгресс является площадкой для взаимодействия исследований и разработок с промышленным применением. Конгресс собирает вместе тех, кто создает метрологию настоящего и будущего и тех, кто действительно применяет ее. Конгресс призван подчеркнуть роль измерений в промышленности и деятельности лабораторий, с учетом того, что измерения становятся все более автоматизированными, цифровыми и взаимосвязанными, и не забывая об изменениях в международной системе единиц, запланированных на 2018 год.

Конгресс ставит перед собой следующие цели:

• улучшить процессы измерений, анализа и испытаний, а также контроля рисков;
• изучить эволюцию методологий и достижения в области научных исследований и их промышленное применение;
• собрать все заинтересованные стороны в одном месте.

В рамках Конгресса будет проходить выставка ENOVA, которая будет являться точкой соприкосновения технологий в электронике, измерениях, телевидении и оптике. Выставка объединит игроков промышленности и области исследований, которые ищут инновационные решения (стартапы, исследовательские институты, университеты, промышленные предприятия и научные центры). Все технологии, необходимые для инноваций завтрашнего дня, можно найти на ENOVA.

Более подробную информацию о 18-ом Международном Конгрессе по метрологии (CIM2017) можно найти на официальном сайте http://www.cim2017.com